产品中心
 
 
XQ15-GⅢ 实用型激光平面干涉仪

XQ15-GⅢ 实用型激光平面干涉仪

日期:2019-02-07 人气:
XQ15-GⅢ 实用型激光平面干涉仪
专利号:200620041101.4
XQ15-GⅢ 实用型激光平面干涉仪

用途和特点:
  在保留XQ15-GⅠ激光平面干涉仪的用途及特点的状况下,更具实用性,可更广泛适用于大批量生产单位的生产车间。检验车间的平面度、微小楔角测量,更适合于大平板生产流水线快速筛选的应用。

技术参数:

  1. 第一标准平面(A面),工作直径D1=Φ146mm,平面的面形偏差小于0.03μm(λ/20)

  2. 第二标准平面(B面),工作直径D2=Φ140mm,平面的面形偏差小于0.03μm(λ/20)

  3. 准直系统-----------------工作直径Φ146mm,焦距 f = 400mm

  4. 光源规格-----------------激光ZN18(He-Ne)

  5. 干涉室尺寸----------------530×270×150mm

上一个:返回列表
下一个:返回列表

产品评论

发表评论

  • 昵 称:
  • 内 容:
  • 验证码:
  •       
www.kmpstr.com COPYRIGHT·2013 XQOPTIC All Right Reserved.
技术支持:飞云建站
 
综合色色综合久久 综合色香蕉在线视频 国产在视频线精品视频